SD-OCT 측정기

Spectral Domain Optical Coherence Tomography. 근적외선 광원과 마이켈슨 간섭계 원리를 이용하여 투명·반투명 소재의 내부 단층 구조를 비접촉·비파괴로 고해상도로 측정합니다.

광원

SLD 780–970 nm

축방향 분해능

3–7 μm (SD-OCT)

측정 속도

27,000–70,000 A-scan/초

측정 방식

비접촉 · 비파괴

주요 특징

고해상도 단층 측정

축방향 분해능 3–7 μm 수준. A-scan(단일 지점 깊이 프로파일), B-scan(단면), 3D 이미지 구성 가능.

빠른 측정 속도

27,000–70,000 A-scan/초. MEMS 스캐닝 미러를 통한 2D/3D 고속 스캔 지원.

비파괴 내부 검사

소재를 절단하거나 접촉하지 않고 내부 층 구조, 결함, 균열을 측정.

비이온화 방사선

저출력 근적외선만 사용. 이온화 방사선 없이 안전하게 측정.

적용 분야

유리 · 디스플레이

곡면 디스플레이 검사, OLED 레이어 결함 감지, LCD 패널 내부 구조 분석.

배터리 · 전장

배터리 팩 레이저 용접 깊이 측정, 알루미늄 버스바 용접 품질 인라인 모니터링.

필름 · 포장

다층 압출 필름 두께 측정, 플렉시블 플라스틱 씰 결함 감지(15 μm 이상 결함 검출).

반도체 · PCB

Wafer 검사, 복합재 내부 균열·층간 박리 분석.

제약 · 코팅

정제 코팅 두께 인라인 모니터링. 바이오필름 분석.

TGV · 유리 가공

Through Glass Via 홀 깊이·관통 여부 확인, 마이크로크랙 비파괴 검사.