Photoluminescence(PL) 측정기

소재에 광을 조사하여 방출되는 광발광(Photoluminescence) 신호를 분석하는 비파괴 측정 시스템. 소재의 전자적 특성, 결함 분포, 공정 변동을 비접촉으로 감지합니다.

405 nm 레이저

Long-pass Filter + 분광

비접촉 · 비파괴

주요 특징

소재나 소자에 물리적 접촉 없이 광학적으로 특성을 평가합니다.

샘플 손상이 없습니다.

생산 초기 단계에서 인라인으로 품질 모니터링이 가능합니다.

웨이퍼 또는 셀 전체의 결함 분포를 고해상도로 빠르게 스크리닝합니다.

Singlet(형광, ~ns)과 Triplet(인광, ~ms) 상태를 분리 분석할 수 있습니다.

페로브스카이트·유기 태양전지(OPV) 광활성층 결함 분포 및 발광 특성 분석. 710 nm, 780 nm 부근 발광 피크 확인.

웨이퍼 및 박막 소재의 전자적 특성 평가. 결함 밀도 및 불순물 수준 간접 평가.

형광(Fluorescence) 및 인광(Phosphorescence) 특성 분석을 통한 생물학적 소재 연구.