시험 분석 서비스
NXT는 유기/무기 소재의 광학특성 시험 분석 서비스를 제공하고 있습니다.
오프라인 샘플 측정 및 실시간 공정 데모 의뢰에 전문적 솔루션을 제안 드리겠습니다.
두께 측정
NXT는 물질의 특성에 따라 나노미터 / 마이크로미터급 두께 산출이 가능하고 다층막의 샘플도 측정합니다.
굴절률/소광계수
옵티컬 모델링이라는 Unique 한 방식으로 시료의 파장 범위에서 굴절률, 소광 계수를 산출합니다.
반사율/투과율
대상체의 반사율과 투과율을 측정하여 두께를 산출합니다.
색차
코팅한 필름의 표면 균질성을 관리하기 위한 색차와 층 두께 모니터링이 가능합니다.
편리한 시험분석 절차
NXT는 분석 서비스를 위해 별도의 신청서 작성 없이 편리하게 신청 가능합니다.
다양한 소재의 굴절률, 소광계수, 두께 시험 분석을 지원합니다.
01
분석 상담
분석 상담 시, 샘플의 정보를 공유하고 측정이 가능하다고 판단되면 그에 필요한 샘플을 요청합니다.
02
견적서 송부
NXT는 고객사에 견적서를 발행하고, 고객사는 NXT에 측정 조건에 적합한 샘플을 제공합니다.
03
분석/시험 진행
NXT 시험 분석 서비스는 결과를 도출하지 못할 경우, 측정비용을 청구하지 않으며 결과 보고서를 발행합니다.
04
계산서 발행 및 결제
보고서 및 결과 데이터를 송부한 후, 고객사에 세금계산서를 송부하고 고객사는 분석비용을 결제합니다.
Spectrometer 응용 예시
고객 요구에 따른 맞춤 설계로 제공되는 METIS, TCM, XELAS, HELIOS 시스템은 OLED, 전지, 디스플레이, 정밀광학, 정밀코팅 등
다양한 제조 분야에서 품질 보증과 생산효율을 관리할 수 있는 최적의 솔루션입니다.
Web Coating
박막두께측정
화학/전자
필름코팅 두께 측정
PCB/전자부품
미세영역 코팅 두께 측정
OLED/디스플레이
유기막 두께 측정
태양전지
셀표면 mono-crystalline의 밀도 및 높이 측정
AR 코팅
AR 코팅 두께 인라인 모니터링 시스템
제약/의료
바이알 내부 코팅 인라인 두께 측정
Multi-Layer
나노미터급 박막 두께 고속 측정 솔루션
User Interface
NXT Inline 측정 시스템 UI
나노급 박막 샘플 측정
나노미터급의 박막 및 다층막 두께를 보다 정확하게 측정하기 위해서 Optical Modeling은 필수입니다.
반사·투과 측정
Layer 물질 각각의 R(반사율), T(투과율)을 측정합니다. 다층 막일 경우 기재와 기재+코팅 A, 기재+코팅 B 샘플을 각 2개씩 준비해 주세요.
Optical Modeling
NXT의 고유한 Optical modeling Tool을 이용하여 Layer 물질 각각에 대한 n(굴절률), k(소광계수)를 산출합니다.
두께 측정
실제 다층막 Layer에 대한 RT를 측정하고 각 Layer의 n, k 값을 불러들여서 최종 다층막의 박막 두께를 동시에 계산합니다.